晶圓線寬 AOI（2D-3D）設備
產品分類
全部分類
本設備適用于Micro OLED產品光學測試AOI缺陷測試及AVI外觀缺陷檢測；
設備組成： 光學檢測單元、 運動單元、視覺對位單元、畫面檢測單元、外觀檢測單元；
對應產品屏解析度： 最高4K，兼容尺寸0.2inch~3inch；檢測精度：0.8um；
針對檢測后不良程度進行自動分揀下料；
系統設計采用先進科技，經客戶驗證，運行品質良好，控制系統采用的執行元件應具備高精度、高可靠性和反應迅速的特點。
功能
針對切割后的Die組裝為成品后做最終點燈/光學測試
規格
人工自動上下料，全自動測試
測試治具-Pogo PIN探針接觸（連接頭材質PEEK，接觸壽命＞10000次）
連接頭形狀-依據客戶產品定制化
搭載4300M CCD 和5倍放大鏡頭，支持8K分辨率，支持子像素1.2um
搭載Klein Instrument CA-小尺寸測試探頭，支持色度和亮度測試
支持點燈畫檢/光學檢測/gamma Tuning/OTP/MTP/demura
主動防震臺，支持VC-D/F等級
支持產品等級分類
支持CIM&MES系統整合
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