
產品分類
全部分類
特點:
Micro OLED離線光學測試系統,0.2-3inch;
自動運動控制;
手動產品上下料,自動對位,手動壓接、自動測試;
采用快速多功能夾具,支持多種型號產品,快速切換;
多儀器搭載,支持AOI與光學;
支持不同溫度點gamma調整,燒錄;
支持wafer 點線面缺陷測試,光學特性測試;
支持不同尺寸TEG片開發階段測試;
項目 |
規格 |
尺寸 |
長*寬*高:1.98m*2.08m*2.00m |
測試樣品大小 |
0.39inch~3inch,8”&12”wafer |
彩色分析儀 |
CA402,探頭測量口徑約2 mm。探頭采用專用的光學系統與算法,確保在超低亮度與小尺寸測量的條件下仍可準確測量 |
相機 |
1、AOI相機4300萬,高分辨率CCD。 |
運動系統 |
采用高精度伺服電機,高精度滾珠螺桿, |
功能 |
色度、亮度、均勻性、、光譜測試等 支持:點、線、面缺陷測試,Mura測試。 |
信號 |
支持特儀制制型號機以及市面通用品牌信號機,支持客制化化信號,信號格式:TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等 |
電源 |
支持高精度多路直流電源輸出,以及客制化電源需求。 |
軟件 |
特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可以通過直接調用模式進行測試。 |
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